恒溫(wen)房高溫老(lao)化室步入(ru)式❤️神马特片🤟恒溫恒(heng)濕試驗室(shi)
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1. 産品名稱(cheng) |
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1.1名稱、型号(hao) |
PB-OTS-9m ³( 大小可定(ding)制 ) |
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2. 适用及(ji)限制說明(ming) |
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2.1适用範圍(wei) |
A）本設備适(shi)用于各類(lei)電工電子(zi)産品及其(qi)他産品、零(ling)部🚩件和材(cai)料進行高(gao)低溫恒定(ding)和漸變、循(xun)環試驗等(deng)⭐環境模拟(ni)可靠性試(shi)驗。除💁此之(zhi)外的用途(tu)可能會導(dao)緻人員受(shou)傷及🍓機設(she)備損壞！ |
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2.2試(shi)品限制 |
A）易(yi)燃、爆炸、易(yi)揮發性物(wu)質試樣的(de)試驗及儲(chu)存； B）腐蝕性(xing)物質試樣(yang)的試驗及(ji)儲存生物(wu)試樣的試(shi)驗或儲存(cun) ； C）強電磁發(fa)射源試樣(yang)的試驗及(ji)儲存； |
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3. 容積(ji)和尺寸 |
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3.1 有(you)效容積 |
9 m³ ( 大(da)小可定制(zhi) ) |
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3.2 内箱尺寸(cun) |
W(寬) 25 00mm*H(高)2000 mm*D(深) 1800 mm |
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3.3 測(ce)試箱外箱(xiang)尺寸 |
約 W(寬(kuan)) 3000 mm*H(高)2300mm*D(深)2 0 00mm |
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4. 性能(neng) |
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4.1. 條 件 |
風冷(leng)+27℃，空載(部份(fen)參數依備(bei)注)無試樣(yang)時 |
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4.2. 溫度範(fan)圍 |
-5 °～ 50 ℃ |
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4.3. 濕度範(fan)圍 |
20%RH～98%RH |
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4.4. 溫/濕度(du)波動度 |
±2℃ /±2.0%RH |
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4.5. 溫(wen)/濕度顯示(shi)精度 |
0.001/0.1 |
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4.6. 溫/濕(shi)度均勻度(du) |
≤2 ℃空載 ≤ 5%RH 空載(zai) |
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4.7. 升溫時間(jian) |
約 1～3℃/分鍾,空(kong)載 |
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4.8. 降溫時(shi)間 |
約 0.8～1℃/分鍾(zhong)，空載 |
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4.9. 升降(jiang)溫過沖 |
≤±1℃ |
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4.10. 滿(man)足試驗标(biao)準 |
GB/T11158-2008 高溫試(shi)驗箱技術(shu)條件； GB/T2423.2-2008 試驗(yan) B：高溫試驗(yan)方法； GB/T11158-2008 高溫(wen)試驗✉️箱技(ji)術條件GB/T2423.2-2008 試(shi)驗 B：高溫試(shi)驗方法GB/T2423.22-2002 溫(wen)度變化試(shi)驗方法IEC60068-2-2：2007 高(gao)溫試驗箱(xiang)試驗方法(fa) GJB150.3 高溫試驗(yan) |
