手機環(huan)♊神马我不卡🚩境與可靠(kao)性測試，全(quan)部在這裏(li)了

  爲(wei)了提升手(shou)機産品可(ke)靠性能力(li)，各個企業(ye)投入了巨(ju)大的努力(li)，從産品設(she)計開發到(dao)生産各個(ge)環節，都在(zai)緻⛹🏻‍♀️力于提(ti)高産品可(ke)靠性。

 

  了解了産(chan)品的一般(ban)結構之後(hou)，在開始結(jie)構設計之(zhi)前，需要㊙️清(qing)楚🐕地知道(dao)産品要達(da)到上市的(de)要求需要(yao)通過哪些(xie)測試，達到(dao)🏃‍♂️什麽☔樣的(de)标準。

 

  産品可靠(kao)性測試 (PRT) 的目的(de)是在特定(ding)的可接受(shou)的環境下(xia)不斷的催(cui)化🍉産品的(de)壽命和疲(pi)勞度，可以(yi)在早期預(yu)測和評估(gu)産✔️品的🔞質(zhi)量和可靠(kao)性。産品結(jie)構設計工(gong)程師必須(xu)通曉可靠(kao)性測試的(de)所有💋标準(zhun)，在設計階(jie)😄段就必須(xu)采取正确(que)的🔴設計和(he)選👌擇合适(shi)的材料來(lai)避免後續(xu)産品的質(zhi)量和可 靠性問(wen)題。産品必(bi)須經過國(guo)家的可靠(kao)性測試，而(er)且🔞越來越(yue)嚴🔞格，要求(qiu)也越來越(yue)高，這就對(dui)我們的設(she)計提出了(le)更高的要(yao)求。

  首(shou)先了解一(yi)下可靠性(xing)影響因素(su) , 影響(xiang)産品可靠(kao)性的極其(qi)重要的因(yin)素是環境(jing)。

 

  環境(jing)因素多種(zhong)多樣：溫度(du)、濕度、壓力(li)、輻射、降雨(yu)、風、雷㊙️、電、鹽(yan)霧、砂塵、振(zhen)動、沖擊、噪(zao)聲、電磁輻(fu)射等，都不(bu)可避免地(di)對電子産(chan)品産生不(bu)良影響。有(you)資料顯示(shi)，電子産品(pin)故障的 52% 失效是(shi)由環境效(xiao)應引起：其(qi)中由溫度(du)引起的占(zhan) 40% ，由振(zhen)動引起的(de)占 27% ，由(you)濕度引起(qi)的占 19% ，其餘 14% 是砂塵、鹽(yan)霧等因素(su)引發的故(gu)障。環境試(shi)驗作爲可(ke)靠性❗試驗(yan)的一種類(lei)型已經發(fa)展成爲一(yi)種預測産(chan)品使用環(huan)境是⭐如何(he)影響産品(pin)的性能和(he)功能的方(fang)法。

 

  在(zai)手機投入(ru)市場之前(qian)，環境試驗(yan)被用來評(ping)估環境影(ying)🏃‍♀️響手機的(de)程度，當手(shou)機的功能(neng)受到了影(ying)響，環境⚽試(shi)驗被用🧑🏾‍🤝‍🧑🏼來(lai)查♌明原因(yin)，并采取措(cuo)施保護手(shou)機免受環(huan)境影響以(yi)保護手機(ji)的可靠性(xing)，環境試驗(yan)也被用來(lai)分析手機(ji)在實際使(shi)用過程中(zhong)出現的💃🏻缺(que)陷以及新(xin)産品的改(gai)進。

  嚴格意(yi)義上講，隻(zhi)有通過了(le)環境适應(ying)性試驗，滿(man)足規定的(de)條件，才能(neng)進行可靠(kao)性試驗，環(huan)境适應性(xing)試驗對于(yu)保證手機(ji)的可靠性(xing)是非常有(you)效的。 手機環境(jing)與可靠性(xing)測試包括(kuo)六個部分(fen)：加速壽命(ming)測試、氣候(hou)💔适應測試(shi)、結構耐久(jiu)測試、表面(mian)裝飾測試(shi)、特殊條件(jian)測試，及其(qi)他條件測(ce)試。  

1.1. 加(jia)速壽命測(ce)試 ALT (AcceleratedLife Test)
　　樣(yang)機标準數(shu)量： PR1 ： 8 台 PR2 ： 10 台 PR3 ： 10 台(tai) PIR ： 10 台
　　試(shi)驗周期： 11-27 天
　　測試目的(de)： 通過(guo)連續的施(shi)加各種測(ce)試條件，加(jia)速産品的(de)失效，提前(qian)暴露潛在(zai)問題。
　　試驗流程(cheng)： 其中(zhong) Thermal Shock 和 1st Drop 測試的(de)時間間隔(ge)應不超過(guo) 4 小時(shi) ;Temp/Humidity 和 2nd Drop 測試的(de)時間間隔(ge)應不超過(guo) 4 小時(shi)。每項測試(shi)完成都應(ying)進行表面(mian)，外觀，結構(gou)和功能檢(jian)查。
　　測(ce)試标準：參(can)數指标正(zheng)常，功能正(zheng)常。
 
1.1.1 室(shi)溫下參數(shu)測試 (ParametricTest)
　　測試環境(jing)：室溫 (20~25 ° C);
　　測試(shi)目的： 測試預檢(jian)查
　　測(ce)試方法：使(shi)用 8960/8922 測(ce)試儀，對所(suo)有樣品進(jin)行參數指(zhi)标預測試(shi)并保存測(ce)試結果。
　　測試标(biao)準：參數指(zhi)标正常，功(gong)能正常。
 
1.1.2 溫度沖(chong)擊測試 (Thermal Shock)
　　測試環(huan)境：低溫箱(xiang)： -30 ° C ; 高溫箱： +10 ° C
　　測(ce)試目的：通(tong)過高低溫(wen)沖擊進行(hang)樣品應力(li)篩選
　　試驗方法(fa)：使用高低(di)溫沖擊箱(xiang)，手機帶電(dian)池，設置成(cheng)關機狀态(tai)先放置于(yu)高溫箱内(nei)持續 45 分鍾後，在(zai) 15 秒内(nei)迅速移入(ru)低溫箱并(bing)持續 45 分鍾後，再(zai) 15 秒内(nei)迅速回到(dao)高溫箱。此(ci)爲一個循(xun)環，共循環(huan) 21 次。實(shi)驗結束後(hou)将樣機從(cong)溫度沖擊(ji)箱 ( 高(gao)溫箱 ) 中取出，恢(hui)複 2 小(xiao)時後進行(hang)外 觀(guan)、機械和電(dian)性能檢查(cha)。對于翻蓋(gai)手機，應将(jiang)一半樣品(pin)打開🚶‍♀️翻蓋(gai) ; 對于(yu)滑蓋手機(ji)，應将一半(ban)樣品滑開(kai)到上限位(wei)置。
　　試(shi)驗标準：手(shou)機表面噴(pen)塗無異變(bian)，結構無異(yi)常，功能正(zheng)常，可正🐅常(chang)撥打電話(hua)。
 
1.1.3 跌落(luo)試驗 (Drop Test)
　　測試條件(jian)： 1.5m 高度(du)， 20mm 厚大(da)理石地闆(pan)。 ( 對于(yu) PDA 手機(ji) , 根據(ju)所屬公司(si)質量部門(men)的建議可(ke)調整爲跌(die)落高👌度爲(wei) 1.3m)
　　測試(shi)目的： 跌落沖擊(ji)試驗
　　試驗方法(fa)：将手機處(chu)于開機狀(zhuang)态進行跌(die)落。對于直(zhi)握手機，進(jin)⛹🏻‍♀️行 6 個(ge)面的自由(you)跌落實驗(yan)，每個面的(de)跌落次數(shu)爲 1 次(ci)，每個面跌(die)落之後進(jin)行外觀、結(jie)構和功能(neng)檢查。對于(yu)翻蓋手機(ji)，進行 8 個面的自(zi)由跌落實(shi)驗 ; 其(qi)中一半樣(yang)品合上翻(fan)蓋按直握(wo)手機的方(fang)法進行✏️跌(die)落🧡，另一🌍半(ban)樣 品(pin)在跌正面(mian)和背面時(shi)須打開翻(fan)蓋 ; 對(dui)于滑蓋手(shou)機，應将一(yi)半樣品滑(hua)開到上限(xian)位置。跌落(luo)結束後對(dui)外觀、結構(gou)和功能進(jin)行檢查。
　　試驗标(biao)準：手機外(wai)觀，結構和(he)功能符合(he)要求。
 
1.1.4 振動試驗(yan) (Vibration Test)
　　測試(shi)條件：振幅(fu)： 0.38mm/ 振頻(pin)： 10~30Hz; 振幅(fu)： 0.19mm/ 振頻(pin)： 30~55Hz;
　　測試(shi)目的： 測試樣機(ji)抗振性能(neng)
　　試驗(yan)方法：将手(shou)機開機放(fang)入振動箱(xiang)内固定夾(jia)緊。啓動振(zhen)動📐台按 X 、 Y 、 Z 三個軸(zhou)向分别振(zhen)動 1 個(ge)小時，每個(ge)軸振完之(zhi)後取出進(jin)行外觀、結(jie)構和功能(neng)檢查。三個(ge)軸向振動(dong)試驗結束(shu)後，對樣機(ji)進行參數(shu)測試。
　　試驗标準(zhun)：振動後手(shou)機内存和(he)設置沒有(you)丢失現象(xiang)，手♈機外☀️觀(guan)，結構和功(gong)能符合要(yao)求，參數測(ce)試正常，晃(huang)👈動無異響(xiang)。
 
1.1.5 濕熱(re)試驗 (Humidity Test)
　　測試環境(jing)： 60 ° C ， 95%RH
　　測試(shi)目的： 測試樣機(ji)耐高溫高(gao)濕性能
　　試驗方(fang)法：将手機(ji)處于關機(ji)狀态，放入(ru)溫濕度實(shi)驗箱内的(de)⛱️架🎯子上，持(chi)續 60 個(ge)小時之後(hou)取出，常溫(wen)恢複 2 小時，然後(hou)進行外觀(guan)、結構和功(gong)能檢查。對(dui)于翻蓋手(shou)🙇🏻機，應将一(yi)半👉樣品合(he)上翻蓋，一(yi)半樣品打(da)開翻蓋 ; 對于滑(hua)蓋手機，應(ying)将一半樣(yang)品滑開到(dao)上限位置(zhi)。
　　試驗(yan)标準：手機(ji)外觀，結構(gou)和功能符(fu)合要求。
 
1.1.6 靜電測(ce)試 (ESD)
　　測(ce)試條件： +/-4kV~+/-8kV 。
　　測(ce)試目的： 測試樣(yang)機抗靜電(dian)幹擾性能(neng)
　　試驗(yan)方法：
　　将樣機設(she)置爲開機(ji)狀态，檢查(cha)樣機内存(cun)和功能。 ( 内存 10 條短信(xin)息和 10 個電話号(hao)碼 ; 使(shi)用功能正(zheng)常 ) 。将(jiang)樣機放于(yu)靜電測試(shi)台的絕緣(yuan)墊上，并且(qie)用充電器(qi)⭐加電使手(shou)機處于充(chong)電狀态 ( 樣機與(yu)絕緣墊邊(bian)緣距離至(zhi)少 2 英(ying)寸 ; 兩(liang)個樣機之(zhi)間的距離(li)也是至少(shao) 2 英寸(cun) ) 。 打開靜電(dian)模拟器，調(diao)節放電方(fang)式，分别選(xuan)擇 +/-4kV( 接(jie)觸放電 ) ， ~+/-8kV( 空(kong)氣放電 ) ，對手機(ji)指定部位(wei)連續放電(dian) 10 次，并(bing)對地放電(dian)。每做完一(yi)個部位的(de)測試，檢查(cha)手機功能(neng)🏃‍♂️、信号和靈(ling)敏度，并觀(guan)察手機在(zai)測試過程(cheng)中有無死(si)♻️機，通信鏈(lian)路中斷， LCD 顯示異(yi)常，自動關(guan)機 及(ji)其他異常(chang)現象。
　　樣機需在(zai)與 8922 測(ce)試儀建立(li)起呼叫連(lian)接的狀态(tai)下進行各(ge)個放電方(fang)式、級🔆别♊和(he)極性的測(ce)試。
　　試(shi)驗标準：在(zai) +/-4Kv 和 +/-8Kv 時出現(xian)任何問題(ti)都要被計(ji)爲故障。
　　備注：靜(jing)電釋放位(wei)置的确定(ding)要依據産(chan)品的具體(ti)情況進行(hang)定義。  

1.2. 氣候适應(ying)性測試 (ClimaticStress Test)
　　樣品标(biao)準數量：一(yi)般氣候性(xing)測試 4 台 ; 惡(e)劣氣候性(xing)測試 2 台。共 8 台。
　　測(ce)試周期： 1 天。
　　測試目的(de)： 模拟(ni)實際工作(zuo)環境對産(chan)品進行性(xing)能測試
　　一般氣(qi)候性測試(shi) 惡劣(lie)氣候性測(ce)試
 
A ： 一般氣(qi)候性測試(shi)：
1.2.1. 高溫(wen) / 低溫(wen)參數測試(shi) (ParametricTest)
　　測試(shi)環境： -10 ° C /+55 ° C
　　測試目的(de)：高溫 / 低溫應用(yong)性性能測(ce)試
　　試(shi)驗方法：将(jiang)手機電池(chi)充滿電，手(shou)機處于開(kai)機狀态，放(fang)🔞入溫度♍實(shi)👣驗箱内的(de)架子上，調(diao)節溫度控(kong)制器到 -10 ° C /+55 ° C 。持續 2 個小時(shi)之後在此(ci)環境下進(jin)行電性能(neng)參數和功(gong)能檢查。對(dui)于翻蓋手(shou)機，應将一(yi)半樣品合(he)上翻蓋，一(yi)半樣品打(da)開翻蓋 ; 對于滑(hua)蓋手機，應(ying)将一半樣(yang)品滑開到(dao)上限位置(zhi)。
　　試驗(yan)标準：手機(ji)電性能參(can)數指标滿(man)足要求，功(gong)能正常🚩，外(wai)殼無變形(xing)。
　　測試(shi)環境： +45 ° C ， 95%RH
　　測試目的(de)：高溫高濕(shi)應用性性(xing)能測試
　　試驗方(fang)法：将手機(ji)電池充滿(man)電，手機處(chu)于開機狀(zhuang)态，放入溫(wen)度實驗箱(xiang)内的架子(zi)上。持續 48 個小時(shi)之後，然後(hou)在此環境(jing)下進行電(dian)性能檢查(cha)，檢查項目(mu)見附表 1 。對于翻(fan)蓋手機，應(ying)将一半樣(yang)品合上翻(fan)蓋，一半樣(yang)品🤟打開翻(fan)蓋 ; 對(dui)于滑蓋手(shou)機，應将一(yi)半樣品滑(hua)開到上限(xian)位置。
　　試驗标準(zhun)：手機電性(xing)能指标滿(man)足要求，功(gong)能正常，外(wai)殼無變形(xing)✂️。
 
1.2.3. 高溫(wen) / 低溫(wen)功能測試(shi) (FunctionalTest)
　　測試(shi)環境： -40 ° C /+10 ° C
　　測試目的(de)：高溫 / 低溫應用(yong)性功能測(ce)試
　　試(shi)驗方法：将(jiang)手機處于(yu)關機狀态(tai)，放入溫度(du)實驗箱内(nei)💚的架子🙇🏻上(shang)。持續 24 個小時之(zhi)後，取出，并(bing)放置 2 小時，恢複(fu)至常溫，然(ran)後進行結(jie)構，功能和(he)電性能檢(jian)查🌈。對于翻(fan)蓋手機，應(ying)将一半樣(yang)品合上翻(fan)蓋，一半樣(yang)品打🧑🏾‍🤝‍🧑🏼開翻(fan)蓋 ; 對(dui)于滑蓋手(shou)機，應将一(yi)半樣品滑(hua)開到上限(xian)位置。
　　試驗标準(zhun)：手機電性(xing)能指标滿(man)足要求，功(gong)能正常，外(wai)殼🌍無🌈變形(xing)。
 
B ：惡劣(lie)氣候性測(ce)試
1.2.4. 灰(hui)塵測試 (Dust Test)
　　測試環(huan)境：室溫
　　測試目(mu)的：測試樣(yang)機結構密(mi)閉性
　　試驗方法(fa)：将手機關(guan)機放入灰(hui)塵實驗箱(xiang)内。灰塵大(da)小 300 目(mu)，持續 3 個小時之(zhi)後，将手機(ji)從實驗箱(xiang)中取出，用(yong)棉布和離(li)子風槍清(qing)潔後進行(hang)檢查。對于(yu)翻蓋手機(ji)，應将一半(ban)⭕樣品合上(shang)翻蓋，一半(ban)樣品打開(kai)翻蓋 ; 對于滑蓋(gai)手機，應将(jiang)一半樣品(pin)滑開到上(shang)限位置。
　　試驗标(biao)準：手機各(ge)項功能正(zheng)常，所有活(huo)動元器件(jian)運轉自如(ru)，顯示❤️區域(yu)沒有明顯(xian)灰塵。
 
1.2.5. 鹽霧測試(shi) (Salt fog Test)
　　測試(shi)環境： 35 ° C
　　測試(shi)目的：測試(shi)樣機抗鹽(yan)霧腐蝕能(neng)力
　　試(shi)驗方法：
　　溶液含(han)量： 5% 的(de)氯化鈉溶(rong)液。
　　将(jiang)手機關機(ji)放在鹽霧(wu)試驗箱内(nei)，合上翻蓋(gai)，樣機用繩(sheng)子懸挂起(qi)來，以免溶(rong)液噴灑不(bu)均或有的(de)表面噴不(bu)到。
　　樣(yang)機需要立(li)即被放入(ru)測試箱。實(shi)驗周期是(shi) 48 個小(xiao)時。實驗過(guo)程中樣機(ji)不得被中(zhong)途取出，如(ru)果急♻️需取(qu)出測試，要(yao)嚴格記錄(lu)測試時間(jian)，該實驗需(xu)向後延遲(chi)相同🚶‍♀️時間(jian)。
　　取出(chu)樣機後，用(yong)棉布和離(li)子風槍清(qing)潔，放置 48 小時進(jin)行常溫幹(gan)燥後，對其(qi)進行外觀(guan)、機械和電(dian)性能♉檢查(cha)。
　　試驗(yan)标準：手機(ji)各項功能(neng)正常，外殼(ke)表面及裝(zhuang)飾件無🐆明(ming)顯腐蝕等(deng)異常現象(xiang)。
 
1.3. 結構(gou)耐久測試(shi) (MechanicalEndurance Test)
　　樣品(pin)标準數量(liang)： 11 台。
　　測試周(zhou)期： 1 天(tian)。
　　測試(shi)流程：
　　測試标準(zhun)：
 
1.3.1. 按鍵(jian)測試 (Keypad Test)
　　測試環境(jing)：室溫 (20~25 ° C);
　　測試(shi)目的：按鍵(jian)壽命測試(shi)
　　測試(shi)數量： 2 台手機。
　　測試方(fang)法：将手機(ji)設置成關(guan)機狀态固(gu)定在測試(shi)夾具上，導(dao)航鍵及其(qi)他任意鍵(jian)進行 10 萬次按壓(ya)按鍵測試(shi)。進行到 3 萬次、 5 萬次、 8 萬次、 10 萬次時(shi)各檢查手(shou)機按鍵彈(dan)性及功能(neng)一次。實驗(yan)中被測試(shi)的鍵的選(xuan)擇根據不(bu)同機型進(jin)行确定并(bing)參考工👅程(cheng)師的建議(yi)，應盡量不(bu)重複，盡可(ke)能多。
　　試驗标準(zhun)：手機按鍵(jian)彈性及功(gong)能正常。
 
1.3.2. 側鍵測(ce)試 (Side Key Test)
　　測(ce)試環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測試目(mu)的：側鍵壽(shou)命測試
　　測試數(shu)量： 1 台(tai)手機
　　測試方法(fa)：将手機設(she)置成關機(ji)狀态固定(ding)在測試夾(jia)🌈具上，對側(ce)鍵進行 10 萬次按(an)壓按鍵測(ce)試。進行到(dao) 3 萬次(ci)、 5 萬次(ci)、 8 萬次(ci)、 10 萬次(ci)時各檢查(cha)手機按鍵(jian)彈性及功(gong)能一次。
　　試驗标(biao)準：手機按(an)鍵彈性及(ji)功能正常(chang)。
 
1.3.3. 翻蓋(gai)測試 (Flip Life Test)
　　測試環境(jing)：室溫 (20~25 ° C);
　　測試(shi)目的：翻蓋(gai)壽命測試(shi)
　　測試(shi)數量： 4 台手機。
　　測試方(fang)法：将手機(ji)設置成開(kai)機狀态，固(gu)定在測試(shi)夾具上，進(jin)㊙️行 5 萬(wan)次開合翻(fan)蓋測試。進(jin)行到 3 萬次、 4 萬次、 4. 5 萬次 、 5 萬次(ci)時進行手(shou)機翻蓋彈(dan)性及功能(neng)一次。
　　試驗标準(zhun)： 5 萬次(ci)後，手機外(wai)觀，結構，及(ji)功能正常(chang)。
 
1.3.4. 滑蓋(gai)測試 (Slide LifeTest)
　　測試環境(jing)：室溫 (20~25 ° C);
　　測試(shi)目的：滑蓋(gai)壽命測試(shi)
　　測試(shi)數量： 4 台手機。
　　測試方(fang)法：将手機(ji)設置成開(kai)機狀态，固(gu)定在測試(shi)夾👌具上，進(jin)行 5 萬(wan)次滑蓋測(ce)試。進行到(dao) 3 萬次(ci)、 4 萬次(ci)、 4. 5 萬次(ci) 、 5 萬次時進(jin)行手機滑(hua)蓋手感及(ji)功能一次(ci)。
　　試驗(yan)标準： 5 萬次後，手(shou)機外觀，結(jie)構，及功能(neng)正常 , 滑蓋不能(neng)有松動 ( 建議 : 垂直手(shou)機時不能(neng)有自動下(xia)滑的現象(xiang) )
 
1.3.5. 重複(fu)跌落測試(shi) (Micro-DropTest)
　　測試(shi)環境：室溫(wen) (20~25 ° C);1cm 高度 ,20mmPVC 闆
　　測(ce)試目的：樣(yang)機跌落疲(pi)勞測試
　　測試數(shu)量： 2 台(tai)。
　　測試(shi)方法：手機(ji)處于開機(ji)狀态，做手(shou)機正面及(ji)背面的🔞重(zhong)複跌落實(shi)驗，每個面(mian)的跌落次(ci)數爲 20,000 次。進行到(dao) 1 萬次(ci)、 1.5 萬次(ci)、 1.8 萬次(ci)、 2 萬次(ci)時各檢查(cha)對手機進(jin)行外觀、機(ji)械和電性(xing)能的中間(jian)檢查。
　　測試标準(zhun)：手機各項(xiang)功能正常(chang)，外殼無變(bian)形、破裂、掉(diao)漆，顯示屏(ping)無破碎，晃(huang)動無異響(xiang)。
 
1.3.6. 充電(dian)器插拔測(ce)試 (Charger Test)
　　測(ce)試環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測試目(mu)的：充電器(qi)插拔 ] 壽命測試(shi)
　　測試(shi)數量： 2 台手機。
　　試驗方(fang)法：将充電(dian)器接上電(dian)源，連接手(shou)機充電接(jie)口，等待手(shou)機🐆至充電(dian)界面顯示(shi)正常後，拔(ba)除充電插(cha)頭。在開機(ji)不插卡狀(zhuang)态下插拔(ba)充電 3000 次。進行到(dao) 2000 次、 2500 次和 3000 次時進(jin)行中間 / 結束檢(jian)查一次。
　　檢驗标(biao)準： I/O 接(jie)口無損壞(huai)，焊盤無脫(tuo)落，充電功(gong)能正常。無(wu)異常手感(gan)⛹🏻‍♀️。
 
1.3.7. 筆插(cha)拔測試 (Stylus Test)
　　測試環(huan)境：室溫 (20~25 ° C);
　　測(ce)試目的：手(shou)機手寫筆(bi)插拔壽命(ming)測試
　　測試數量(liang)： 2 台手(shou)機。
　　試(shi)驗方法：将(jiang)手機處于(yu)開機狀态(tai)，筆插在手(shou)機筆插孔(kong)内🚩，然後拔(ba)出，反複 20 ， 000 次(ci)。進行到 1 萬次、 1 萬 5 千次、 1 萬 8 千(qian)次、 2 萬(wan)次時檢查(cha)手機筆插(cha)入拔出結(jie)構功能、外(wai)殼及筆是(shi)否正🥰常。
　　檢驗标(biao)準：手機筆(bi)輸入功能(neng)正常，插入(ru)拔出結構(gou)功能、外殼(ke)及筆均正(zheng)常。
 
1.3.8 點(dian)擊試驗 (PointActivation Life Test)
　　試驗條(tiao)件：觸摸屏(ping)測試儀 ( 接觸墊(nian)尖端半徑(jing)爲 3.15mm; 硬(ying)度爲 40deg 的矽樹脂(zhi)橡膠 )
　　測試目的(de)：觸摸屏點(dian)擊壽命測(ce)試
　　樣(yang)品數量： 1 台
　　試驗方法(fa)：将手機設(she)置爲開機(ji)狀态，點擊(ji) LCD 的中(zhong)心位置 250,000 次，點擊(ji)力度爲 250g; 點擊速(su)度： 2 次(ci) / 秒 ;
　　檢驗标(biao)準：不應出(chu)現電性能(neng)不良現象(xiang) ; 表面(mian)不應有損(sun)傷
 
1.3.9 劃(hua)線試驗 (Lineation LifeTest)
　　試驗條(tiao)件：觸摸屏(ping)測試儀，直(zhi)徑爲 0.8mm 的塑料手(shou)寫筆或随(sui)機附帶的(de)手寫筆
　　測試目(mu)的：觸摸屏(ping)劃線疲勞(lao)測試
　　樣品數量(liang)： 1 台
　　試驗方(fang)法：将手機(ji)設置爲關(guan)機狀态，在(zai)同一位置(zhi)劃線至少(shao) 100,000 次，力(li)度爲 250g;
　　滑行速度(du)： 60mm/ 秒
　　檢驗标(biao)準：不應出(chu)現電性能(neng)不良現象(xiang) ; 表面(mian)不應有損(sun)傷
 
1.3.10. 電(dian)池 / 電(dian)池蓋拆裝(zhuang)測試 (Battery/BatteryCover Test)
　　測試環境(jing)：室溫 (20~25 ° C);
　　測試(shi)目的：電池(chi) / 電池(chi)蓋拆裝壽(shou)命測試
　　測試數(shu)量： 2 台(tai)。
　　試驗(yan)方法：将電(dian)池 / 電(dian)池蓋反複(fu)拆裝 2000 次。進行到(dao) 1500 次、 1800 次和 2000 次時檢(jian)查手機及(ji)電池 / 電池蓋各(ge)項功能、及(ji)外觀是否(fou)正常。
　　檢驗标準(zhun)：手機及電(dian)池卡扣功(gong)能正常無(wu)變形，電池(chi)觸🌈片🔞、電池(chi)連接器應(ying)無下陷、變(bian)形及磨損(sun)的現象，外(wai)觀無異常(chang)。
 
1.3.11. SIM Card 拆裝(zhuang)測試 (SIM Card Test)
　　測試環境(jing)：室溫 (20~25 ° C);
　　測試(shi)目的： SIM 卡拆裝壽(shou)命測試
　　測試數(shu)量： 2 台(tai)手機。
　　試驗方法(fa)：插上 SIM 卡，然後取(qu)下 SIM 卡(ka)，再重新裝(zhuang)上，反複 1000 次，每插(cha)拔 100 次(ci)檢查開機(ji)是否正常(chang)，讀卡信息(xi)正常。
　　檢驗标準(zhun)： SIM 卡觸(chu)片、 SIM 卡(ka)推扭開關(guan)正常，手機(ji)讀卡功能(neng)使用正常(chang)。
 
1.3.12. 耳機(ji)插拔測試(shi) (Headset Test)
　　測試(shi)環境：室溫(wen) (20~25 ° C);
　　測試目的(de)：耳機插拔(ba)壽命測試(shi)
　　測試(shi)數量： 2 台手機。
　　試驗方(fang)法：将手機(ji)處于開機(ji)狀态，耳機(ji)插在耳機(ji)插孔内，然(ran)🏃‍♂️後拔出，反(fan)複 3000 次(ci)。進行到 2000 、 2500 次(ci)和 3000 次(ci)時各檢查(cha)一次。
　　檢驗标準(zhun)：實驗後檢(jian)查耳機插(cha)座無焊接(jie)故障，耳機(ji)插頭無損(sun)傷，使用耳(er)機通話接(jie)收與送話(hua)無雜音 ( 通話過(guo)程中轉動(dong)耳機插頭(tou) ) ，耳機(ji)插入手機(ji)耳機插孔(kong)時不會松(song)動 ( 可(ke)以承受得(de)住手機本(ben)身的重量(liang) ) 。
 
1.3.13. 導線連接(jie)強度試驗(yan) (Cable PullingEndurance Test--Draft)
　　測試(shi)環境：室溫(wen) (20~25 ° C);
　　測試目的(de)：導線連接(jie)強度測試(shi)
　　實驗(yan)方法：選取(qu)靠近耳塞(sai)的一段導(dao)線，将其兩(liang)端固定在(zai)實驗機上(shang)，用 10N ± 1N 的力度(du)持續拉伸(shen) 6 秒，循(xun)環 100 次(ci)。 ( 其它(ta)造型的導(dao)線可采納(na)工程師的(de)建議來确(que)定循環次(ci)數 )
　　檢(jian)驗标準：導(dao)線功能正(zheng)常。被覆外(wai)皮不破裂(lie)，變形。
 
1.3.14. 導線折彎(wan)強度試驗(yan) (Cable BendingEndurance Test--Draft)
　　測試(shi)環境：室溫(wen) (20~25 ° C);
　　測試目的(de)：導線折彎(wan)疲勞測試(shi)
　　實驗(yan)方法：分别(bie)選取靠近(jin)耳塞和靠(kao)近插頭的(de)一段導線(xian)，将導線的(de)兩端固定(ding)在實驗機(ji)上，做 0mm~25mm 做折彎實(shi)驗 3000 次(ci)。 ( 其它(ta)造型的導(dao)線可采納(na)工程師的(de)建議來确(que)定循環次(ci)數 )
　　檢(jian)驗标準：導(dao)線功能正(zheng)常被覆外(wai)皮不破裂(lie)，變形。
 
1.3.15. 導線擺動(dong)疲勞試驗(yan) (Cable SwingEndurance Test--Draft)
　　測試(shi)環境：室溫(wen) (20~25 ° C);
　　測試目的(de)：導線擺動(dong)疲勞測試(shi)
　　實驗(yan)方法 : 分别将耳(er)機和插頭(tou)固定在實(shi)驗機上，用(yong) 1N 的力(li)， 以 180 °的角度(du)反複擺動(dong)耳機末端(duan) 3000 次。 ( 其它造(zao)型的導線(xian)可采納工(gong)程師的建(jian)議來确定(ding)循環次數(shu) )
　　檢驗(yan)标準：導線(xian)功能正常(chang)被覆外皮(pi)不破裂。
 
1.4 表面裝(zhuang)飾測試 (DecorativeSurface Test)
　　測試周(zhou)期： 4 天(tian)。
　　樣品(pin)标準數量(liang)：每種顔色(se) 6 套外(wai)殼。
　　測(ce)試流程：
 
1.4.1. 磨擦測(ce)試 (Abrasion Test -RCA)
　　測(ce)試環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測試目(mu)的：印刷 / 噴塗抗(kang)摩擦測試(shi)
　　試驗(yan)方法：将最(zui)終噴樣品(pin)塗固定在(zai) RCA 試驗(yan)機上，用 115g 力隊同(tong)一點進行(hang)摩擦試驗(yan)。每隔 50 次檢查樣(yang)品的表面(mian)噴塗。對于(yu)表面摩擦(ca) 300cycles ，側棱(leng)摩擦 150 Cycles 。特殊形狀(zhuang)的手機摩(mo)擦點的确(que)定由測試(shi)工程師和(he)設💁計工程(cheng)❓師共同确(que)定。
　　檢(jian)驗标準：耐(nai)磨點塗層(ceng)不能脫落(luo)，不可露出(chu)底材質地(di) ( 對于(yu)噴塗、電鍍(du)、 IMD); 圖案(an)或字體不(bu)能缺損、不(bu)清晰 ( 對于絲印(yin)、按鍵 ) 。
 
1.4.2. 附着(zhe)力測試 (CoatingAdhesion Test)
　　測試環(huan)境：室溫 (20~25 ° C);
　　測(ce)試目的：噴(pen)塗附着力(li)測試
　　試驗方法(fa)：選最終噴(pen)塗的手機(ji)外殼表面(mian)，使用百格(ge)刀刻出 100 個 1 平方毫米(mi)的方格，劃(hua)格的深度(du)以露出底(di)材爲止，再(zai)用 3M610 号(hao)膠帶紙用(yong)力粘貼在(zai)方格面， 1 分鍾後(hou)迅速以 90 度的角(jiao)度撕脫 3 次，檢查(cha)方格面油(you)漆是否有(you)脫落。
　　檢驗标準(zhun)：方格面油(you)漆脫落應(ying)小于 3% ，并且沒有(you)滿格脫落(luo)。
 
1.4.3. 汗液(ye)測試 (PerspirationTest)
　　測試環境(jing)： 60 oC ， 95%RH
　　測試目的(de)：表面抗汗(han)液腐蝕能(neng)力
　　試(shi)驗方法：把(ba)濾紙放于(yu)酸性 (PH=2.6) 溶液充分(fen)浸透，用膠(jiao)帶将浸有(you)酸性溶液(ye)的濾紙粘(zhan)在樣品噴(pen)漆♉表面，确(que)保試紙與(yu)樣品噴漆(qi)表面充分(fen)🤩接觸，然後(hou)放在測試(shi)⭐環境🍉中，在(zai) 24 小時(shi)檢查一次(ci)， 48 小時(shi)後，将樣品(pin)從測試環(huan)境中取出(chu)，并且放置(zhi) 2 小時(shi)後，檢查樣(yang)品表面噴(pen)漆。
　　檢(jian)驗标準：噴(pen)漆表面無(wu)變色、起皮(pi)、脫落、褪色(se)等異常🌈。
 
1.4.4. 硬度測(ce)試 (Hardness Test)
　　測(ce)試環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測試目(mu)的：表面噴(pen)塗硬度測(ce)試
　　試(shi)驗方法：用(yong) 2H 鉛筆(bi)，在 45 度(du)角下，以 1Kg 的力度(du)在樣品表(biao)面從不同(tong)的方向劃(hua)出 3~5cm 長(zhang)的線條 3~5 條。
　　檢驗标準(zhun)：用橡皮擦(ca)去鉛筆痕(hen)迹後，在油(you)漆表面應(ying)不留下劃(hua)痕。
 
1.4.5. 鏡(jing)面摩擦測(ce)試 (Lens ScratchTest)
　　測(ce)試環境 : 室溫 (20~25 ° C);
　　測(ce)試目的：鏡(jing)面抗劃傷(shang)測試
　　試驗方法(fa)：用 Scratch Tester 将(jiang)實驗樣品(pin)固定在實(shi)驗機上，用(yong)載重 (load) 爲 500g 的(de)力在樣品(pin)表面往複(fu)劃傷 50 次。
　　檢(jian)驗标準：鏡(jing)面表面劃(hua)傷寬度應(ying)不大于 100 μ m( 依(yi)靠目視分(fen)辨、參照缺(que)陷限度樣(yang)闆 )
 
1.4.6 紫(zi)外線照射(she)測試 (UV illuminantTest)
　　測試環境(jing)： 50 ° C
　　測試目的(de)：噴塗抗紫(zi)外線照射(she)測試
　　試驗方法(fa)：在溫度爲(wei) 50 ° C ，紫外線爲(wei) 340W/mm2 的光(guang)線下直射(she)油漆表面(mian) 48 小時(shi)。試驗結束(shu)後将手機(ji)外殼取出(chu)，在常溫下(xia)冷卻 2 小時後檢(jian)查噴漆表(biao)面。
　　檢(jian)驗标準：油(you)漆表面應(ying)無褪色，變(bian)色，紋路，開(kai)裂，剝落等(deng)現㊙️象。
 
1.5.1. 低溫跌落(luo)試驗 (Low temperatureDrop Test)
　　測試環境(jing)： -10 ° C
　　樣機數量(liang) : 3 台
　　測試目(mu)的：樣機低(di)溫跌落測(ce)試
　　試(shi)驗方法：将(jiang)手機進行(hang)電性能參(can)數測試後(hou)處于開機(ji)狀态放置(zhi)在 -10 ° C 的低溫(wen)試驗箱内(nei) 1 小時(shi)後取出，進(jin)行 1.2 米(mi)的 6 個(ge)面跌落， 2 個循環(huan)，要求 3 分鍾内完(wan)成跌落，方(fang)法同常溫(wen)跌落。
　　檢驗标準(zhun)：手機外觀(guan)，結構，功能(neng)和電性能(neng)參數符合(he)要🌈求。
 
1.5.2. 扭曲測試(shi) (Twist Test)
　　測試(shi)環境：室溫(wen) (20~25 ° C);
　　樣機數量(liang) : 2 台
　　測試目(mu)的：抗扭曲(qu)測試
　　試驗方法(fa)：将手機處(chu)于開機狀(zhuang)态，固定在(zai)扭曲試驗(yan)機上，用 2N m 力矩反(fan)複扭曲手(shou)機 1000 次(ci)。對于滑蓋(gai)手機，應将(jiang)一半樣品(pin)滑開到上(shang)限位置。
　　檢驗标(biao)準：手機沒(mei)有變形 , 外觀無(wu)異常，各項(xiang)功能正常(chang)。
 
1.5.3. 坐壓(ya)測試 (Squeeze Test)
　　測試環境(jing)：室溫 (20~25 ° C);
　　樣機(ji)數量 : 2 台
　　測(ce)試目的：抗(kang)坐壓測試(shi)
　　試驗(yan)方法：将手(shou)機處于開(kai)機狀态，放(fang)置在坐壓(ya)試驗機上(shang)，用👉 45Kg 力(li)反複擠壓(ya)手機 1000 次。 對(dui)于滑蓋手(shou)機，應将一(yi)半樣品滑(hua)開到上限(xian)位置。
　　檢驗标準(zhun)：手機沒有(you)變形 , 外觀無異(yi)常，各項功(gong)能正常。
 
1.5.4. 鋼球跌(die)落測試 (Ball Drop Test)
　　測試環(huan)境：室溫 (20~25 ° C);100g 鋼(gang)球。
　　樣(yang)機數量 : 2 台
　　測試目的(de)：鏡蓋強度(du)測試
　　試驗方法(fa)：鏡蓋表面(mian)：用 100g 鋼(gang)球，從 20cm 高處，以初(chu)速度爲 0 的狀态(tai)，垂直打擊(ji)鏡蓋表面(mian)。
　　檢驗(yan)标準：手機(ji)鏡蓋無變(bian)形，無裂縫(feng)，無破損 ( 允許有(you)白點 ) ， LCD 功能(neng)正常。
 
1.6 其他條件(jian)測試
　　樣品标準(zhun)數量： 5 台。
　　測(ce)試周期： 1 天。
　　測試流程(cheng) :
　　測試(shi)标準：
 
1.6.1 螺釘的測(ce)試 (Screw Test)
　　測(ce)試環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　樣機數(shu)量 : 3 台(tai)
　　測試(shi)目的：螺釘(ding)拆裝疲勞(lao)測試
　　試驗方法(fa)：将手機平(ping)放在試驗(yan)台上用允(yun)許的最大(da)扭矩 ( 由設計工(gong)程師和生(sheng)産工程師(shi)提供 ), 對同一螺(luo)釘在同一(yi)位置反複(fu)旋動螺釘(ding) 10 次 .
　　檢驗标(biao)準：試驗中(zhong)和完成後(hou) , 螺紋(wen)沒有變形(xing) , 損壞(huai) , 滑絲(si) , 用肉(rou)眼觀察沒(mei)有裂紋 ; INSERT 不能有(you)明顯的松(song)動 , 劃(hua)絲 ; 螺(luo)釘口 ( 包括機械(xie)和自攻螺(luo)釘 ) 不(bu)能有明顯(xian)的松動 , 劃絲
 
1.6.2 挂繩孔(kong)強度的測(ce)試 (Hand StrapTest)
　　測(ce)試環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　樣機數(shu)量 : 2 台(tai)
　　測試(shi)目的：挂繩(sheng)孔結構強(qiang)度測試
　　試驗方(fang)法：将挂繩(sheng)穿過挂繩(sheng)孔并以 2 圈 / 秒的速率(lü)在垂直的(de)平面内轉(zhuan)動 100 圈(quan) ,
　　然後(hou)用拉力計(ji)以持續不(bu)斷的力拉(la)手機的挂(gua)繩 .
　　檢(jian)驗标準：手(shou)機的挂繩(sheng)能容易的(de)穿過挂繩(sheng)孔 ( 不(bu)借助于特(te)殊的工具(ju) ); 轉動(dong)手機時 , 挂繩 孔不能(neng)被損壞 ; 挂繩孔(kong)的破壞力(li)不能小于(yu) 12kgf(111N)

　　可靠(kao)性是指産(chan)品在規定(ding)的條件下(xia)、在規定的(de)時間内完(wan)⭕成規定🙇‍♀️的(de)功能的能(neng)力。産品在(zai)設計、應用(yong)過程中，不(bu)斷經受自(zi)身及外界(jie)氣候環境(jing)及機械環(huan)境的影響(xiang)，而💰仍需要(yao)能夠正常(chang)工作📐，這就(jiu)需要以試(shi)驗設備對(dui)其進行驗(yan)證，這個驗(yan)證基⛱️本分(fen)爲研💋發試(shi)驗、試♈産試(shi)驗、量産抽(chou)檢三個部(bu)分。

1 、其(qi)中氣候環(huan)境包含：高(gao)溫、低溫、高(gao)低溫交變(bian)、高溫高濕(shi)⚽、低溫🏃🏻低濕(shi)、快速溫度(du)變化、溫度(du)沖擊、高壓(ya)蒸煮 (HAST) 、溫升測試(shi)、鹽霧腐蝕(shi) ( 中性(xing)鹽霧、銅加(jia)速乙酸、交(jiao)變鹽霧 ) 、人工汗(han)液、氣體腐(fu)蝕 (SO2/H2S/HO2/CL2) 、耐(nai)焊接熱，沾(zhan)錫性，防塵(chen)等級測試(shi) (IP1X-6X) ，防水(shui)等級測試(shi) (IPX1-X8) 、阻燃(ran)測試， UV 老化 ( 熒光紫外(wai)燈 ) 、太(tai)陽輻射 ( 氙燈老(lao)化、鹵素燈(deng) ) 等等(deng) ;

2 、其中(zhong)機械環境(jing)包含：振動(dong) ( 随機(ji)振動，正弦(xian)振動 ) 、機械沖擊(ji)、機械碰撞(zhuang)、跌落、斜面(mian)沖擊，溫濕(shi)度 振(zhen)動三綜合(he)、高加速壽(shou)命測試 (HALT) 、高加速(su)應力篩選(xuan) (HASS 、 HASA) 、插拔力，保(bao)持力，插拔(ba)壽命，按鍵(jian)壽命測試(shi)、搖擺試驗(yan)、耐磨測試(shi)、附着力測(ce)試、百格測(ce)試等。